Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), tarama ucu ile taranan yüzeyin arasındaki çeşitli kuvvetlere dayanarak yüzeyin nano-boyut mertebesinde 2D ve 3D topografik görüntüsünün elde edildiği yüzey hassas bir karakterizasyon yöntemidir. Yüzey topografisi, yüzeyin nanometrik boyutlardaki tarama ucu tarafından satır satır taranırken uçtan yansıyan lazerin fotodedektör tarafından toplanıp işlenmesi ile oluşturulur. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir. Örnek yüzeylerinin görüntülenmesi yanı sıra faz, elektrik iletkenlik ve manyetik farklılıklar da saptanabilmektedir.

Cihaz Bilgileri

Marka: Park System

Model: NX10

Mevcut Modlar: Contact AFM mode; Lateral Force mode; True Non Contact mode; Tapping mode; Phase Imaging; Electric Force mode; Magnetic Force mode; Nanoindenter; Nanolithography; STM; Electrochemical Microscopy (EC-AFM & EC-STM); Conductive AFM; I-V Spectroscopy; Nanomanipulation; Liquid AFM

Mevcut AFM Tarama Kafası Alanı: 50 µm x 50 µm x 10 µm

Uygulama Alanları:

Yüzey pürüzlülüğü 10 µm altında olan malzemelerin, biyolojik örneklerin, tıp ve diş hekimliği alanındaki malzemelerin ve örneklerin, nanoteknolojik madde ve malzemelerin topografik ve kristalografik inceleme ve analizleri ile hassas ölçüm, görüntüleme ve mikroanaliz gerektiren tüm incelemeler ve araştırmalar.