Taramalı Elektron Mikroskopisi

Taramalı elektron mikroskobu (SEM), odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu tipidir. Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşerek numune yüzeyindeki morfoloji, topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir.

Merkezimizde bulunan alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu cihazımız ile araştırmacılarımıza yüksek çözünürlüklü yüzey fotoğrafları ve yüzey elementel analizi verileri sağlayabilmekteyiz. Ayrıca araştırmacılarımızın ihtiyaç duyabileceği STEM analizleri konusunda da araştırmacılarımıza destek olmaktayız.

Cihaz Bilgilerimiz

Marka: Carl Zeiss

Model: Sigma 300 VP

 

Cihaz Üzerindeki Dedektörler:

  • In-lens SE
  • Sekonder (SE2)
  • Backscatter (HDAsB)
  • STEM
  • EDX (129eV; Be(4) - Am(95) aralığında)

 

Kullanılabilen Vakum Modları:

  • Değişken Basınç (VP) (10 - 133 Pa)
  • Yüksek Vakum (HV)

 

Elektron Kaynağı: Schottky Termal Alan Emisyon Tabancası

Akselerasyon Voltaj Aralığı: 0,02 - 30 kV