Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskopisi (FE-SEM)

Taramalı elektron mikroskobu (SEM), odaklanmış bir elektron demeti ile numune yüzeyini tarayarak görüntü elde eden bir elektron mikroskobu tipidir. Elektronlar numunedeki atomlarla etkileşerek numune yüzeyindeki topografi ve kompozisyon hakkında bilgiler içeren farklı sinyaller üretir.

Cihaz Bilgileri

Marka: Carl Zeiss

Model: Sigma 300 VP

Kurulum: 0,02 – 30 kV Akselerasyon voltaj aralıklı schottky termal alan emisyon tabancası; Uygun koşullarda beraber çalışabilen veya mix edilebilen ya da tek çalışabilen Inlens-SE, Sekonder, STEM, HD-Backscatter, VP-SE dedektörler; Yüksek vakumda ve 10 – 133 Pa aralığındaki değişken basınçta çalışılabilen modlar; Be (4) – Am (95) aralığında elementel yüzey analizi yapabilen 129 keV EDAX dedektör.

 

Uygulama Alanları:

Malzemelerin, jeoloji ve madencilik alanında her tür kayaç, maden ve mineral örneklerin, biyolojik örneklerin, tıp ve diş hekimliği alanındaki malzemelerin ve örneklerin, nanoteknolojik madde ve malzemelerin mineralojik, morfolojik, topografik, mikroanalitik ve kristalografik inceleme ve analizleri ile hassas ölçüm, görüntüleme ve mikroanaliz gerektiren tüm incelemeler ve araştırmalar.

 

 

 

Merkezimizde SEM veya STEM analizi için ön hazırlık gerektiren örneklerde numune hazırlık işlemleri yapılabilmektedir. İlgili laboratuvarımızda bulunan Leica EM CPD300 Kritik Nokta Kurutma Cihazı ile biyolojik numuneler başta olmak üzere çeşitli malzemeler SEM görüntülemesi için kritik noktadaki CO2 ile kurutulabilmektedir. Ayrıca, SEM görüntülemesi istenen fakat iletken olmayan numuneler Leica EM ACE200 kaplama cihazımız ile Altın/Paladyum (AuPd) veya Karbon (C) ile kaplanabilmektedir.